OTSUKA 大塚电子 SM-100P 智能薄膜测厚仪 高精度超薄多层复合薄膜无损测厚设备
OTSUKA 大塚电子 SM-100P 智能薄膜测厚仪 高精度超薄多层复合薄膜无损测厚设备
OTSUKA 大塚电子 SM-100P 智能薄膜测厚仪 高精度超薄多层复合薄膜无损测厚设备
功能薄膜、柔性显示材料行业，经常需要在生产现场快速完成多层复合膜、超薄涂层厚度检测。OTSUKA 大塚电子 SM-100P 智能薄膜测厚仪，采用反射分光光谱干涉法，属于高性能手持式膜厚检测设备，测量精度高，支持多层薄膜解析，适配超薄、多层复合薄膜研发与现场质检，北崎代理，支持样品测试，提供原厂技术支持。
SM-100P 整机重量仅约 1.1kg，便携手持式设计，可直接带到产线工位，不用将样品取样送到实验室，实现现场即时检测。该型号最大支持 3 层复合膜解析，单层测量范围 0.1~100μm，多层膜可测 1~100μm，光斑直径小于 1mm，微小区域涂层也可定点测量。非接触式检测方式，不会损伤易刮伤的柔性光学膜、湿膜样品。
设备搭载触控显示屏，光谱曲线与厚度数值实时显示，内置阈值判定功能，可设置厚度上下限，快速判定样品合格与否。检测数据可保存至 U 盘，导出 CSV 格式报表，方便生产质量追溯。设备抗环境干扰能力强，产线车间环境也能稳定测量，兼顾实验室研发与产线现场抽检。
广泛用于光学功能膜、柔性基材、多层涂布薄膜、半导体光刻胶、医疗薄膜等行业。北崎可承接薄膜样品预测试，验证设备测量效果，配套原厂技术支持，提供设备调试、操作培训，助力薄膜产线建立高精度厚度质控体系。
